SUNX神视限定反射型光纤FD-L40，日本SUNX神视限定反射型光纤FD-L40
即使薄玻璃电路板也能绘图
由于采用*的大透镜，即便是薄玻璃电路板也能从侧面直接检测。另外，由于检测范围宽（25±12.5mm），即使玻璃电路板在不规则位置上也可进行稳定绘图。
可用于各种玻璃电路板
各种玻璃边形状如R表面和C表面都可获得大光量，因而盒内玻璃电路板的绘图成为可能。除了清晰的玻璃外，有黑色或黄色涂层的玻璃也可检测。
即使的弯曲±8°也能稳定检测
随着玻璃电路板的大型化，其弯曲量也因此变大，但少有种可应用于左右弯曲±8°（FD-L45为±6°）的电路板。
宽范围、高精度检测
检测距离为3～17mm（FD-L45为10～ 2 5 m m ） ， 且由于定位误差在0.2mm以下，因此可进行更高精度的检测。
检测距离0～7mm
以比以往更小的尺寸达到了同类中zui长的检测距离，用于座式确认十分理想，即使对弯曲的玻璃电路板也可提供稳定的检测。
备有短距离型FD-L44S尺寸极小，节省空间FD-WL48
以W7.2H7.5D2mm的极小尺寸收录于限定反射光学系统中。此外，在无法确保安装空间的场所、装置中也可设置，从而大大扩展了其用途。
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